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    POLITRACK 全自動徑跡蝕刻分析系統

    簡要描述:Politrack 一款全自動的,高性能的固體徑跡分析系統,可用來進行氡濃度和中子劑量測量。徑跡分析單元采用高性能的光學器件,3D 機動控制系統,可快速/精確地分析批量的探測器。

    • 產品型號:
    • 廠商性質:生產廠家
    • 更新時間:2025-04-27
    • 訪  問  量:722
    詳情介紹
    品牌其他品牌產地國產
    加工定制

    POLITRACK 全自動徑跡蝕刻分析系統

    概述

    Politrack     一款全自動的,高性能的固體徑跡分析系統,可用來進行氡濃度和中子劑量測量。徑跡分析單元采用高性能的光學器件,3D 機動控制系統,可快速/精確地分析批量的探測器。徑跡分析單元用戶可分析不同尺寸 CR39 探測器,一次可分析 64  25x25 mm3 360  15x15x1.5 mm3 CR39 探測器,還可定制其他尺寸探測器。形態分析可以識別本底信號,不同能量的徑跡。具有自動 ID 識別、徑跡重疊校正、CR-39 探測器衰減校正等功能。

     

    特點

    • 可讀取多種探測器包括CR-39、LR115

    • 自動讀取劑量計 ID

    • 用戶可自定義讀取和掃描區域,自動調整程序

    • 自動校正重疊區域

    • 自動區別污染和徑跡點 • 自定義探測器尺寸

     

    系統組成

    • CR-39 探測器 • 徑跡分析單元 • 蝕刻單元 • 分析軟件

     

    主要技術參數

    徑跡分析單元:

    • 2550x750x40 mm 蜂窩防震墊板

    • 三軸微步進電機控制板

    • 顯微鏡,20x 物鏡

    • 200x200 mm 掃描支架

    • Z 軸精確線性位移, 重復性±0.5 微米

    • 高分辨率尼康USB CCD 相機,分辨率 1280 x 960, 30 /秒

    • XY 電動掃描臺,205x205mm,掃描速度:90mm/s, 分辨率小于 1 微米

    • 配有Led 系統,用于樣品背光

    • 軟件包:CR-39 LR115 CR-39 中子/ LET 光譜儀,三款可供選擇

    • 重量:47kg

    蝕刻單元:

    • 蝕刻溶液:氫氧化鈉溶液

    • 蝕刻體積:26L

    • 蝕刻溫度:0-150℃,可調

    • 溫度穩定性:±0.1℃

    • 配有比重計,量程 1100-1200,用于溶液密度檢查

    • 蝕刻探頭:25x25x1.5 mm3 300 個;15x15x1.5 mm3 360 

    • 其它尺寸可定制

    • 配套軟件包有 CR-39 , LR115 膠片氡, CR-39 中子/LET 譜儀可選。所有的計算算法都有詳細的說明。用戶可以應用和/或修改形態參數,并通過強大的圖形工具實時顯示結果。




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